fib制样是啥?

FIB制样是一种用聚焦离子束切割样品的技术，常用于材料科学和电子显微镜观察。它能精准切割出纳米级薄片，像用离子刀雕刻一样精细。制样时先在样品表面镀碳保护层，再通过离子束逐层剥离，最终得到超薄截面。这种方法适合观察半导体、金属等材料的微观结构，还能制备透射电镜样品。

FIB制样的应用场景

FIB制样在芯片失效分析中很常见，能定位电路缺陷。研究人员用它制备原子探针样品，分析原子排列。生物样品制样时需低温冷冻，防止结构破坏。制样过程需真空环境，避免污染。一次完整制样约需2小时，切割厚度可达10纳米以下。