固体折射率可以测定吗?

固体折射率可以测定。常用方法包括椭圆偏振法和最小偏向角法。椭圆偏振法通过测量偏振光反射时的相位差计算折射率，适用于薄膜和半导体。最小偏向角法利用三棱镜将光束偏转，通过测量最小偏角推算折射率，精度较高。激光笔、分光仪等设备能辅助完成测量，实验室中常用水晶或玻璃样品校准仪器。

测量注意事项

测量时需控制环境温度和湿度，避免空气流动影响结果。样品表面必须平整光滑，划痕或杂质会导致数据偏差。不同波长的光折射率不同，测量前需选定特定光源。透明固体可直接测量，不透明固体需镀膜处理。重复测量多次取平均值可提高准确性，数据误差一般控制在0.001以内。