电晕过大会造成膜卷断边吗?

电晕过大会导致膜卷断边。电晕处理强度过高会使薄膜表面过度氧化，材料变脆，容易在收卷时产生应力集中，引发边缘破裂。特别是对于薄型薄膜，电晕过大还会加剧拉伸变形，增加断边风险。生产中需根据薄膜厚度调整电晕功率，避免强度超标。

电晕与膜卷的关系

电晕处理强度需与薄膜特性匹配。强度过高时，分子链断裂增多，材料韧性下降，收卷时边缘易受压裂开。实际案例中，0.05毫米厚的薄膜在电晕值达50达因时断边率显著上升。建议通过小试确定最佳电晕范围，同时控制收卷张力，减少断边发生。