xrd和扫描电镜得出的粒径有什么区别?

XRD和扫描电镜测得的粒径反映不同物理意义。XRD测的是晶粒尺寸，即材料内部晶粒的平均大小；扫描电镜直接观察颗粒的形貌和尺寸，包括一次颗粒和团聚体。前者通过衍射峰宽化计算，后者通过图像分析获取。

区别

XRD：测量材料内部晶粒的尺寸，反映晶体结构单元的大小。结果受晶格畸变影响，数值通常较小，代表纳米级或微米级的晶粒尺寸。适用于粉末、薄膜等样品，无法区分颗粒是否团聚。

扫描电镜：观察样品表面颗粒的直观形貌和尺寸，包括一次颗粒和二次团聚体。结果受样品制备影响，能显示颗粒形状、分布和表面细节，尺寸范围较广，从纳米到微米级均可观测。