荧光磁粉探伤和磁粉检测的区别是什么?

荧光磁粉探伤和磁粉检测都是利用磁场检测工件表面缺陷的无损检测方法，但荧光磁粉探伤在磁粉中添加了荧光物质，需在紫外线下观察，而普通磁粉检测直接在可见光下观察。

区别

荧光磁粉探伤：使用含荧光成分的磁粉，在紫外灯照射下发出黄绿色荧光，缺陷显示更清晰，适合检测微小裂纹或复杂形状工件。检测灵敏度较高，能发现0.1毫米以下的缺陷，但需暗环境和专用设备，成本较高，多用于航空、核电等高要求领域。

磁粉检测：采用普通磁粉，在可见光下直接观察缺陷，操作简单，无需特殊光源，适合大型工件或现场检测。灵敏度较低，一般能发现0.2毫米以上的缺陷，成本低，应用广泛，如汽车、机械制造等行业。