磁粉探伤和ut探伤哪个级别高?

磁粉探伤和UT探伤都是无损检测方法，级别高低取决于检测对象和需求。磁粉探伤适合表面及近表面缺陷检测，操作简单成本低；UT探伤适合内部缺陷检测，精度高但设备贵。选择哪种级别高，需根据具体检测场景决定。

对比

磁粉探伤：主要检测铁磁性材料表面和近表面的裂纹、气孔等缺陷。操作时在工件表面喷洒磁粉，通过磁场吸附显示缺陷位置。检测深度约2毫米，设备便宜，适合小型零件和现场快速检测，但对非磁性材料无效。

UT探伤：利用超声波穿透材料内部，通过反射波发现内部缺陷。检测深度可达数米，能发现微小裂纹和夹杂物，适合大型工件和厚壁材料。设备昂贵，操作需专业培训，但对复杂形状工件检测难度较大。